Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy - Prijzen

Micro-Raman ( Raman) spectroscopy is an e cient, non-destructive techniquewidely used to determine the quality of semiconductor materials and microelectrome-chanical systems. This work characterizes the stress distribution in wurtzite gal-lium nitride grown on c-plane sapphire substrates by molecular beam epitaxy. Thiswide bandgap semiconductor material is being considered by the Air Force ResearchLaboratory for the fabrication of shock-hardened...

De Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy is een populaire optie voor Onderwijs & Didactiek. Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.

Productspecificaties

Waar te koop

Characterization of Stress in Gan-On-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.