Some time ago, what is now the Electromagnetics Division of the National Institute of Standards and Technology (NIST) developed the capability to measure noise parameters of amplifiers [1,2]. Recently, modified methods and analysis have been developed and have been applied both to amplifiers [3] and to transistors [4], the latter in an on-wafer environment. For such measurements to be meaningful, the results must be accompanied by corresponding u...
De Uncertainty Analysis for Nist Noise-Parameter Measurement is een populaire optie voor Encyclopedieën & Naslagwerken. Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.
Uncertainty Analysis for Nist Noise-Parameter Measurement is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.