Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization - Prijzen

The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the la...

De Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization is een populaire optie . Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.

Productspecificaties

Waar te koop

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.

  • Prijs237,-
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization
meer afbeeldingen
  • EAN9783662146378
46.846.184producten
166.538merken
940winkels