Bol 205,- 205,- Bekijk 
Amazon.nl Bekijk prijs The diminishing size and greater complexity of modern semiconductor integrated circuits poses new challenges in fault detection. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical fault localisation technique used for analysing IC failures. Detailing the PEM technique and its application to semiconductor device analysis, this unique reference: * Illustrates the application of the PEM technique in various areas of device reliability, in particular h...
De Semiconductor Device And Failure Analysis is een populaire optie . Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.
Semiconductor Device And Failure Analysis is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.
