Bol 101,- 101,- Bekijk 
Amazon.nl Bekijk prijs Chip-level soft-error rate (SER) estimation can come from two sources: direct experimental measurement and simulation. Because SER mitigation decisions need to be made very early in the product design cycle, long before product Si is available, a simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of the final product. The following contributi...
De Radiation-induced Soft Error is een populaire optie voor Elektrotechniek. Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.
Radiation-induced Soft Error is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.
