Bol 75,99 75,99 Bekijk 
Amazon.nl Bekijk prijs It is shown how permittivity can be extracted via time domain reflection data from a perfect electric conductor (PEC) backed planar sample of a low-loss, non-dispersive dielectric using two rectangular Ku-band waveguide aperture probes with attached PEC flange plates of the same geometry but different dimensions. Of critical importance is being able to identify the reflection from the edge of the flange plate in the parallel plate region created...
De A Simple Non-Destructive Method for Characterizing Nondispersive, Low-Loss Dielectrics is een populaire optie voor Onderwijs & Didactiek. Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.
A Simple Non-Destructive Method for Characterizing Nondispersive, Low-Loss Dielectrics is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.
