Particle and Particle Systems Characterization - Prijzen

Small-angle scattering (SAS) is the premier technique for the characterization of disordered nanoscale particle ensembles. SAS is produced by the particle as a whole and does not depend in any way on the internal crystal structure of the particle. Since the first applications of X-ray scattering in the 1930s, SAS has developed into a standard method in the field of materials science. SAS is a non-destructive method and can be directly applied for...

De Particle and Particle Systems Characterization is een populaire optie voor Vaste stof-fysica. Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.

Productspecificaties

Waar te koop

Particle and Particle Systems Characterization is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.

Particle and Particle Systems Characterization
meer afbeeldingen
  • EAN9781466581777
37.602.183producten
135.561merken
920winkels