Bol 178,- 178,- Bekijk 
Amazon.nl Bekijk prijs This volume features the latest research and practical data from the premier event for the microelectronics failure analysis community. The papers address the symposium's theme, Exploring the Many Facets of Failure Analysis.
De ISTFA 2014, Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis is een populaire optie . Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.
ISTFA 2014, Proceedings from the 40th International Symposium for Testing and Failure Analysis is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.
