This book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electrons, known as secondary electrons, are used mainly for the purpose of nanoscale topographic imaging. This book demonstrates the advantages of carrying out precision electron energy spectroscopy of its secondary electrons,...
De Secondary Electron Energy Spectroscopy In The Scanning Electron Microscope is een populaire optie . Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.
Secondary Electron Energy Spectroscopy In The Scanning Electron Microscope is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.