Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield - Prijzen

With the advancement of process technology for fabrication of integrated circuits, the magnitude of variations in process parameters have increased and the parametric yield loss problem has become a serious concern of the fabrication houses. Thus, the traditional techniques for power and delay optimization in design automation tools can no longer be used effectively. This has opened up a challenge to the chip designers to design integrated circui...

De Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield is een populaire optie . Esy heeft 1 prijs gevonden, de goedkoopste keuze is volgens ons Bol, maar bekijk de andere aanbieders om het zeker te weten. Links openen in een nieuwe tabblad. Bekijk hier onder de product specificaties. Meer product informatie beschikbaar bij Bol.

Waar te koop

Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield is onder andere te koop bij: Bol. Esy raadt altijd aan om meerdere aanbieders te bekijken om geen last minute deals mis te lopen.